On the electrical monitor for device degradation in the CHISEL stress regime

Articolo
Data di Pubblicazione:
2003
Citazione:
On the electrical monitor for device degradation in the CHISEL stress regime / Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca. - In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. - ISSN 0741-3106. - 24:5(2003), pp. 357-359. [10.1109/LED.2003.812552]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
CHannel initiated secondary electron (CHISEL); Degradation model; Electrical monitor; Hot carrier degradation; Substrate bias;
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unimore.it/handle/11380/1162785
Pubblicato in:
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
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