Silicon Luminescence Techniques for the Characterization of Hot-Carrier and Degradation Phenomena in MOS Devices

Articolo
Data di Pubblicazione:
1995
Citazione:
Silicon Luminescence Techniques for the Characterization of Hot-Carrier and Degradation Phenomena in MOS Devices / Selmi, Luca. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 28:1(1995), pp. 250-257. [10.1016/0167-9317(95)00053-B]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unimore.it/handle/11380/1163083
Pubblicato in:
MICROELECTRONIC ENGINEERING
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