Trade-offs between tunneling and Hot-Carrier Injection in short channel Floating Gate MOSFETs
Articolo
Data di Pubblicazione:
1997
Citazione:
Trade-offs between tunneling and Hot-Carrier Injection in short channel Floating Gate MOSFETs / Selmi, L., Ghetti, A., Bez, R., Sangiorgi, E.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 36:(1997), pp. 293-296. [10.1016/s0167-9317(97)00065-6]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Elenco autori:
Selmi, Luca; Ghetti, A; Bez, R; Sangiorgi, E.
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