Data di Pubblicazione:
1997
Citazione:
A study of hot electron degradation effects in pseudomorphic HEMTs / P., Cova; R., Menozzi; Fantini, Fausto; M., Pavesi; G., Meneghesso. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 37:(1997), pp. 1131-1135. [10.1016/s0026-2714(96)00274-2]
Abstract:
In this work we report on hot-electron stress experiments performed on commercial AlGaAs/InGaAs/GaAs pseudomorphic HEMTs.
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
Hot-electron.
Pseudomorphic HEMT.
Elenco autori:
P., Cova; R., Menozzi; Fantini, Fausto; M., Pavesi; G., Meneghesso
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