Data di Pubblicazione:
1993
Citazione:
Electromigration in Thin-Films for Microelectronics / G. L., Baldini; I., De Munari; A., Scorzoni; Fantini, Fausto. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 33:(1993), pp. 1799-1805. [10.1016/0026-2714(93)90086-E]
Abstract:
The effcts of the electromigration in the metallic stripes in ICs is reviewed.
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
Electromigration
Integrated circuits.
Elenco autori:
G. L., Baldini; I., De Munari; A., Scorzoni; Fantini, Fausto
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