Electron Holography and Imaging capabilities of the JEOL 2100F FEG-TEM
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2005
Citazione:
Electron Holography and Imaging capabilities of the JEOL 2100F FEG-TEM / Schofield, M A; Beleggia, M; Zhu, Y. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - (2005).
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Schofield, M A; Beleggia, M; Zhu, Y
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