Measurement of Charge at Grain-Boundary Edge Dislocations in Ca-doped and Undoped YBCO by Electron Holography
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2003
Citazione:
Measurement of Charge at Grain-Boundary Edge Dislocations in Ca-doped and Undoped YBCO by Electron Holography / Schofield, M A; Beleggia, M; Zhu, Y; Guth, K; Jooss, Ch. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - 9:2(2003), pp. 784-785. [10.1017/s1431927603443924]
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Schofield, M A; Beleggia, M; Zhu, Y; Guth, K; Jooss, Ch
Link alla scheda completa:
Pubblicato in: