Measurements of functional response of nano-objects using advanced electron microscopy
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2006
Citazione:
Measurements of functional response of nano-objects using advanced electron microscopy / Zhu, Y; Beetz, T; Wu, L; Klie, R F; Huang, L; Lau, J W; Schofield, M A; Volkov, V V; Beleggia, M; Malac, M. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - 12:Suppl. 2(2006), pp. 540-541. ( Microscopy and Microanalysis 2006 Chicago, Illinois, USA July 30 – August 3, 2005) [10.1017/S143192760606925X].
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Zhu, Y; Beetz, T; Wu, L; Klie, R F; Huang, L; Lau, J W; Schofield, M A; Volkov, V V; Beleggia, M; Malac, M
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Titolo del libro:
Microscopy and Microanalysis
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