Cs corrected bright field TEM imaging of radiation sensitive materials
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2005
Citazione:
Cs corrected bright field TEM imaging of radiation sensitive materials / Malac, M; Beleggia, M; Egerton, R F; Zhu, Y. - In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. - ISSN 1435-8115. - (2005).
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Malac, M; Beleggia, M; Egerton, R F; Zhu, Y
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