Full-Band Quantization Analysis Reveals a Third Valley in Silicon Inversion Layers

Articolo

Data di Pubblicazione:

2005

Citazione:

Full-Band Quantization Analysis Reveals a Third Valley in Silicon Inversion Layers / Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. - ISSN 0741-3106. - vol.26, n.6:(2005), pp. 413-415.

Tipologia CRIS:

Articolo su rivista

Elenco autori:

Esseni, David; Palestri, Pierpaolo

Autori di Ateneo:

PALESTRI Pierpaolo

Link alla scheda completa:

https://iris.unimore.it/handle/11380/1328091

Pubblicato in:

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS

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