Microscopic scale characterization and modeling of transistor degradation under HC stress

Articolo

Data di Pubblicazione:

2012

Citazione:

Microscopic scale characterization and modeling of transistor degradation under HC stress / Mamy Randriamihaja, Y; Huard, V; Federspiel, X; Zaka, A; Palestri, Pierpaolo; Rideau, D; Roy, D; Bravaix, A.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 52:11(2012), pp. 2513-2520. [10.1016/j.microrel.2012.04.005]

Tipologia CRIS:

Articolo su rivista

Elenco autori:

Mamy Randriamihaja, Y; Huard, V; Federspiel, X; Zaka, A; Palestri, Pierpaolo; Rideau, D; Roy, D; Bravaix, A.

Autori di Ateneo:

PALESTRI Pierpaolo

Link alla scheda completa:

https://iris.unimore.it/handle/11380/1328109

Pubblicato in:

MICROELECTRONICS RELIABILITY

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