Data di Pubblicazione:
2024
Citazione:
The Role of Carrier Injection in the Breakdown Mechanism of Amorphous Al2O3 Layers / La Torraca, P.; Padovani, A.; Strand, J.; Shluger, A.; Larcher, L.. - In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. - ISSN 0741-3106. - 45:2(2024), pp. 236-239. [10.1109/LED.2023.3337882]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
Amorphous alumina; atomic defects; breakdown; carrier injection; high-k dielectric;
Elenco autori:
La Torraca, P.; Padovani, A.; Strand, J.; Shluger, A.; Larcher, L.
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