Characterization of DC performance and low-frequency noise of an array of nMOS Forksheets from 300 K to 4 K
Articolo
Data di Pubblicazione:
2024
Citazione:
Characterization of DC performance and low-frequency noise of an array of nMOS Forksheets from 300 K to 4 K / Asanovski, R.; Grill, A.; Franco, J.; Palestri, P.; Mertens, H.; Ritzenthaler, R.; Horiguchi, N.; Kaczer, B.; Selmi, L.. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 215:(2024), pp. 1-4. [10.1016/j.sse.2024.108881]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
Forksheet
cryogenic electronics
1/f noise
Elenco autori:
Asanovski, R.; Grill, A.; Franco, J.; Palestri, P.; Mertens, H.; Ritzenthaler, R.; Horiguchi, N.; Kaczer, B.; Selmi, L.
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