EUV soft X-ray characterization of a FEL multilayer optics damaged by multiple shot laser beam
Articolo
Data di Pubblicazione:
2011
Citazione:
EUV soft X-ray characterization of a FEL multilayer optics damaged by multiple shot laser beam / A., Giglia; N., Mahne; A., Bianco; C., Svetina; Nannarone, Stefano. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 635:1(2011), pp. S30-S38. [10.1016/j.nima.2010.10.026]
Abstract:
abstract
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
Damage threshold; Free-electron laser; Multilayer;
Elenco autori:
A., Giglia; N., Mahne; A., Bianco; C., Svetina; Nannarone, Stefano
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