Inspecting Defects of EB-PBF Components with Active Thermography and Deep Learning: A Feasibility Study
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2025
Citazione:
Inspecting Defects of EB-PBF Components with Active Thermography and Deep Learning: A Feasibility Study / Mehdi Hosseini, S. M.; Depaoli, F.; Ponzio, F.; Giorgi, S. D.; Rizza, G.; Tognoli, E.; Colombini, G.; Galati, M.; Cataldo, S. D.. - (2025), pp. 1-8. ( 2025 IEEE 30th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) Porto, Portugal 09-12 September 2025) [10.1109/ETFA65518.2025.11205639].
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Mehdi Hosseini, S. M.; Depaoli, F.; Ponzio, F.; Giorgi, S. D.; Rizza, G.; Tognoli, E.; Colombini, G.; Galati, M.; Cataldo, S. D.
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Titolo del libro:
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.