Data di Pubblicazione:
1997
Citazione:
"Nanoscale Caliper for the Direct Measurement of Scanning Force Microscopy Probes" / Biscarini, Fabio. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 71:(1997), p. 888. [10.1063/1.119678]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Elenco autori:
Biscarini, Fabio
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