Data di Pubblicazione:
1996
Citazione:
Forward and reverse characteristics of irradiated MOSFET's / Paccagnella, A., Ceschia, M., Verzellesi, G., Dalla Betta, G.F., Bellutti, P., Fuochi, P.G., Soncini, G.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - 43:(1996), pp. 797-804. [10.1109/23.510715]
Abstract:
pMOSFETs biased with Vgs
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
MOSFET; FOXFET; radiation damage; radiation effects.
Elenco autori:
Paccagnella, A.; Ceschia, M.; Verzellesi, Giovanni; Dalla Betta, G. F.; Bellutti, P.; Fuochi, P. G.; Soncini, G.
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