Low Voltage Hot Electrons and Soft-programming Lifetime Prediction in Non-Volatile Memory Cells

Articolo
Data di Pubblicazione:
1999
Citazione:
Low Voltage Hot Electrons and Soft-programming Lifetime Prediction in Non-Volatile Memory Cells / Ghetti, A; Selmi, Luca; Bez, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 46:4(1999), pp. 696-702. [10.1109/16.753703]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unimore.it/handle/11380/1162822
Pubblicato in:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
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