Characterization and Modeling of long term retention in SONOS Non Volatile Memories
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2007
Citazione:
Characterization and Modeling of long term retention in SONOS Non Volatile Memories / Arreghini, A; Akil, N; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; Van Duuren, M. J.. - STAMPA. - 2007:(2007), pp. 406-409. ( ESSDERC 2007 - 37th European Solid-State Device Research Conference Munich, deu 11-13/09/2007) [10.1109/ESSDERC.2007.4430964].
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Arreghini, A; Akil, N; Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; Van Duuren, M. J.
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Titolo del libro:
Proceeding of the European Solid State Device Research Conference (ESSDERC)
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