Correlation between Substrate Hot Electron Energy and Homogeneous Degradation in n-MOSFETs

Articolo

Data di Pubblicazione:

1994

Citazione:

Correlation between Substrate Hot Electron Energy and Homogeneous Degradation in n-MOSFETs / Selmi, Luca; Fiegna, C; Bez, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 41:9(1994), pp. 1677-1679. [10.1109/16.310126]

Tipologia CRIS:

Articolo su rivista

Elenco autori:

Selmi, Luca; Fiegna, C; Bez, R.

Autori di Ateneo:

SELMI LUCA

Link alla scheda completa:

https://iris.unimore.it/handle/11380/1163233

Pubblicato in:

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

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