Monitoring Hot Carrier Degradation in SOI MOSFETs by Hot Carrier Luminescence Techniques

Articolo

Data di Pubblicazione:

1998

Citazione:

Monitoring Hot Carrier Degradation in SOI MOSFETs by Hot Carrier Luminescence Techniques / Selmi, Luca; Pavesi, M; Wong, H. S.; Acovic, A; Sangiorgi, Enrico. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:5(1998), pp. 1135-1139. [10.1109/16.669568]

Tipologia CRIS:

Articolo su rivista

Elenco autori:

Selmi, Luca; Pavesi, M; Wong, H. S.; Acovic, A; Sangiorgi, Enrico

Autori di Ateneo:

SELMI LUCA

Link alla scheda completa:

https://iris.unimore.it/handle/11380/1163262

Pubblicato in:

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

Journal