Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2003
Citazione:
Towards Microscopic Understanding of MOSFET Reliability: the Role of Carrier Energy and Transport Simulations / Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo. - (2003), pp. 333-336. ( International Electron Devices Meeting (IEDM) Washington, DC, usa Dec.2003).
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Selmi, Luca; Esseni, David; Palestri, Pierpaolo
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Titolo del libro:
Proceedings IEEE International Electron Device Meeting (IEDM) 2003
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