Data di Pubblicazione:
2000
Citazione:
Impact Ionization and Photon Emission in MOS Capacitors and FETs / Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; Dalla Serra, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico. - (2000), pp. 97-100. ( IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) SAN FRANCISCO, CA DEC 10-13, 2000) [10.1109/IEDM.2000.904267].
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Palestri, Pierpaolo; M., Pavesi; P., Rigolli; Selmi, Luca; Dalla Serra, Alberto; Abramo, Antonio; F., Widdershoven; Sangiorgi, Enrico
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Titolo del libro:
INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING 2000, TECHNICAL DIGEST
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