CMOS and Interconnect Reliability - Flash Reliability/Hot Carrier Effects
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2003
Citazione:
CMOS and Interconnect Reliability - Flash Reliability/Hot Carrier Effects / Pavan, P.; Owens, A.. - (2003), p. 155. ( IEEE International Electron Devices Meeting Washington, DC, usa 2003).
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Pavan, P.; Owens, A.
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Titolo del libro:
Technical Digest - International Electron Devices Meeting
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