Skip to Main Content (Press Enter)

Logo UNIMORE
  • ×
  • Home
  • Corsi
  • Insegnamenti
  • Professioni
  • Persone
  • Pubblicazioni
  • Strutture
  • Terza Missione
  • Attività
  • Competenze

UNI-FIND
Logo UNIMORE

|

UNI-FIND

unimore.it
  • ×
  • Home
  • Corsi
  • Insegnamenti
  • Professioni
  • Persone
  • Pubblicazioni
  • Strutture
  • Terza Missione
  • Attività
  • Competenze
  1. Pubblicazioni

A 2.4-GHz wireless alpha-ray sensor for remote monitoring and spectroscopy

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2010
Citazione:
A 2.4-GHz wireless alpha-ray sensor for remote monitoring and spectroscopy / Rovati, Luigi; Verzellesi, Giovanni; Bonaiuti, Matteo; Bidinelli, Luca; Saguatti, Davide; G. F., Dalla Betta; V., Tyzhnevyi; N., Zorzi; S., Bettarini. - STAMPA. - (2010), pp. 821-824. ( 2010 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2010 Austin, TX, USA May 2010) [10.1109/IMTC.2010.5488182].
Abstract:
Wireless alpha-ray device has been designed, realizedand tested in operation. The first prototype is a battery-suppliedsystem with a compact package and wireless communicationcapability. One of the more attractive features is its ability tooperate in a star network (single point-to-multipoint). The sensorrecords the arrival time of the alpha particles and the spectrumof the produced charge; it transmits this information in regulartime intervals or upon request to the base station. The overallsystem has a compact package suitable for remote alpha-rayspectroscopy.
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Keywords:
Alfa particle; silicon detectors
Elenco autori:
Rovati, Luigi; Verzellesi, Giovanni; Bonaiuti, Matteo; Bidinelli, Luca; Saguatti, Davide; G. F., Dalla Betta; V., Tyzhnevyi; N., Zorzi; S., Bettarini
Autori di Ateneo:
ROVATI Luigi
VERZELLESI Giovanni
Link alla scheda completa:
https://iris.unimore.it/handle/11380/645537
Titolo del libro:
Proceedings of the 2010 IEEE International Instrumentation & Measurement Technology Conference
Pubblicato in:
CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
Journal
CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INSTRUMENTATION/MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE
Series
  • Utilizzo dei cookie

Realizzato con VIVO | Designed by Cineca | 26.5.0.0