Measurements of Low Field Mobility in Ultra Thin SOI n- and p-MOSFETs

Articolo
Data di Pubblicazione:
2001
Citazione:
Measurements of Low Field Mobility in Ultra Thin SOI n- and p-MOSFETs / Mastrapasqua, M; Esseni, David; Celler, G. K.; Fiegna, C; Selmi, Luca; Sangiorgi, Enrico. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 59:1-4(2001), pp. 409-416. [10.1016/S0167-9317(01)00631-1]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
Low field mobility; Mobility; SOI;
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unimore.it/handle/11380/1162803
Pubblicato in:
MICROELECTRONIC ENGINEERING
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