Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2006
Citazione:
Assessment of the Impact of Biaxial Strain on the Drain Current of Decanometric n-MOSFET / Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca. - (2006), pp. 166-169. ( ESSDERC 2006 - 36th European Solid-State Device Research Conference Montreux, che 18-22/09/2006) [10.1109/ESSDER.2006.307664].
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Ponton, D; Lucci, L; Palestri, Pierpaolo; Esseni, David; Selmi, Luca
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Titolo del libro:
European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
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