Data di Pubblicazione:
1982
Citazione:
Bipolar Schottky logic device failure modes due to contact metallurgical degradation / Canali, C.; Fantini, Fausto; Vanzi, M.; Soncini, G.; Zanoni, E.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - STAMPA. - 22:(1982), pp. 1155-1175. [10.1016/S0026-2714(82)80567-0]
Abstract:
Failure modes of bipolar Schottky logic devices due to metallurgical degradation of PtSi/Ti-W/Al contacts were studied.
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Keywords:
TTL LS.
Metal- semiconductor contacts.
Elenco autori:
Canali, C.; Fantini, Fausto; Vanzi, M.; Soncini, G.; Zanoni, E.
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