Latch-up in CMOS Integrated Circuits

Capitolo di libro

Data di Pubblicazione:

1989

Citazione:

Latch-up in CMOS Integrated Circuits / Fantini, F., M., M., E., Z. - In: Microlelectronic reliability, volume II, Integrity Assessment and Assurance / E. POLLINO. - STAMPA. - NORWOOD, MA : Artech House, Inc., 1989. - ISBN 0890063508. - pp. 151-194

Abstract:

The physics of latch-up. Electrical characterization. Analytical techniques. Layout and technological improvements for avoiding latch-up.

Tipologia CRIS:

Capitolo/Saggio

Keywords:

Latch-up. CMOS. SEM Voltage Contrast.

Elenco autori:

Fantini, Fausto; M., Muschitiello; E., Zanoni

Link alla scheda completa:

https://iris.unimore.it/handle/11380/461529

Titolo del libro:

Microlelectronic reliability, volume II, Integrity Assessment and Assurance