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Pubblicazioni
MICROSCOPY MICROANALYSIS MICROSTRUCTURES
Rivista
Codice:
E110048
ISSN:
1154-2799
Dati Generali
Dati Generali
Pubblicazioni (4)
CBED STRAIN-MEASUREMENTS IN BORON IMPLANTED SILICON
Articolo
Cluster Models for the Simulation of STM Images of Adsorbates: Origin of Non-Topographical Features
Abstract
Influence of experimental parameters on the determination of tetragonal distortion in heterostructures by LACBED
Articolo
STRUCTURAL AND ANALYTICAL CHARACTERIZATION OF SI(1-X)GEX/SI HETEROSTRUCTURES BY RUTHERFORD BACKSCATTERING SPECTROMETRY AND CHANNELING, ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY AND DOUBLE CRYSTAL X-RAY-DIFFRACTOMETRY
Articolo
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