Substrate enhanced degradation of cmos devices

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2000
Citazione:
Substrate enhanced degradation of cmos devices / Driussi, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca; F., Piazza. - (2000), pp. 323-326. ( IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) SAN FRANCISCO, CA DEC 10-13, 2000) [10.1109/IEDM.2000.904321].
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unimore.it/handle/11380/1163346
Titolo del libro:
INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING 2000, TECHNICAL DIGEST
Pubblicato in:
TECHNICAL DIGEST - INTERNATIONAL ELECTRON DEVICES MEETING
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