Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements
Articolo
Data di Pubblicazione:
1998
Citazione:
Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements / Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 45:4(1998), pp. 802-808. [10.1109/16.662779]
Tipologia CRIS:
Articolo su rivista
Elenco autori:
Selmi, Luca; Mastrapasqua, M; Boulin, D. M; Bude, J; Pavesi, M; Sangiorgi, E; Pinto, M. R.
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