A Machine Learning Approach for a Vision-Based Van-Herick Measurement System
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2021
Citazione:
A Machine Learning Approach for a Vision-Based Van-Herick Measurement System / Fedullo, Tommaso; Cassanelli, Davide; Gibertoni, Giovanni; Tramarin, Federico; Quaranta, Luciano; De Angelis, Giovanni; Rovati, Luigi. - 2021-May:(2021), pp. 1-6. ( 2021 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2021 Glasgow, United Kingdom 17-20 May 2021) [10.1109/I2MTC50364.2021.9459946].
Tipologia CRIS:
Relazione in Atti di Convegno
Keywords:
Artificial Intelligence; CNN; Computer Vision; Machine Learning; Van Herick; Vision Based Measurement;
Elenco autori:
Fedullo, Tommaso; Cassanelli, Davide; Gibertoni, Giovanni; Tramarin, Federico; Quaranta, Luciano; De Angelis, Giovanni; Rovati, Luigi
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Titolo del libro:
2021 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)