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Pubblicazioni
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
Rivista
Codice:
E079955
ISSN:
0894-6507
Dati Generali
Dati Generali
Pubblicazioni (3)
Dependability Assessment of Transfer Length Method to Extract the Metal–Graphene Contact Resistance
Articolo
Impact of Device Layout and Annealing Process During the Passivation of Interface States in Presence of Silicon Nitride Layers
Articolo
Special Issue of IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing devoted to the 2011 International Conference on Microelectronic Test Structures
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